測(cè)角儀(goniometer) 通量度角度大小的裝置，又稱測(cè)角器、測(cè)角計(jì)、角度計(jì)、量角儀等。

現(xiàn)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜中的測(cè)角系統(tǒng)。它以轉(zhuǎn)臂傳動(dòng)機(jī)構(gòu)行角度測(cè)量。

測(cè)角儀校準(zhǔn)步驟

1.清洗正多面棱體，并對(duì)棱鏡及棱體恒溫。

2.調(diào)整儀器使儀器處于正常作狀態(tài)下，并檢查外觀，儀器應(yīng)能平穩(wěn)的作，讀數(shù)裝置視場(chǎng)亮度應(yīng)均勻。開關(guān)按扭應(yīng)可靠的作。金屬度盤刻度方向及示值應(yīng)致。

3.用自準(zhǔn)儀檢查作臺(tái)的作面的直線度和平面度。

4.用心軸、測(cè)微表檢定作臺(tái)的平行度和的斜向圓跳動(dòng)。

5.示值誤差檢定:選用標(biāo)準(zhǔn)正多面棱體和自準(zhǔn)直儀做標(biāo)準(zhǔn)，將棱體借助心軸固定在分度頭上，儀器度盤位于0°位置，調(diào)整多面棱體，使其0°作面與自準(zhǔn)直儀照準(zhǔn)，在分度頭讀數(shù)裝置中讀數(shù)，然后轉(zhuǎn)動(dòng)分度頭，使度盤分別為30°…60°…330°位置，每個(gè)測(cè)回的示值用大與小之差來(lái)確定。

晶體測(cè)角儀(goniometer)是測(cè)量晶體面角以研究晶體幾何形狀的儀器。常用的有接觸測(cè)角儀和反射測(cè)角儀。普通的接觸測(cè)角儀(contact goniometer)相當(dāng)于量角器加小尺，適用于晶體的測(cè)量。反射測(cè)角儀有單圈反射測(cè)角儀和雙圈反射測(cè)角儀兩種。

單圈反射測(cè)角儀(one circle reflection goniometer)主要由水平圈、光管、視物管(望遠(yuǎn)鏡)和掣晶臺(tái)四分組成。根據(jù)晶面對(duì)光線反射的性質(zhì)，利用光學(xué)系統(tǒng)行測(cè)量，度較，可達(dá)1′，適用于測(cè)量粒徑約數(shù)毫米而且晶面平整光滑的小晶體。

雙圈反射測(cè)角儀(two circle reflection goniometer)比單圈反射測(cè)角儀多個(gè)直立圈，使晶體可繞互相垂直的兩個(gè)軸意轉(zhuǎn)動(dòng)，大大簡(jiǎn)化了測(cè)量手續(xù)，是晶體測(cè)量的儀器。用接觸測(cè)角儀或單圈反射測(cè)角儀測(cè)得的是每?jī)蓚€(gè)晶面法線間的夾角值，即面角值。而由雙圈反射測(cè)角儀測(cè)得的則是每個(gè)晶面的組面坐標(biāo)值--方位角和距角值