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少子壽命測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀/ 型號(hào)：KDK-LT-1

1、 用途

用于硅、鍺單晶的少數(shù)載子壽命測(cè)量，除需要有個(gè)測(cè)量平面外，對(duì)樣塊體形無(wú)嚴(yán)格要求，可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。

產(chǎn)品型號(hào)：KDK-LT-1
更新時(shí)間：2023-02-21
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量：539

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

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頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀/ 型號(hào)：KDK-LT-1

1、 用途

用于硅、鍺單晶的少數(shù)載子壽命測(cè)量，除需要有個(gè)測(cè)量平面外，對(duì)樣塊體形無(wú)嚴(yán)格要求，可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。

2、少子壽命測(cè)試儀 設(shè)備組成

2.1、光脈沖發(fā)生裝置

重復(fù)頻率＞25次/s      脈寬＞60μｓ          光脈沖關(guān)斷時(shí)間＜0.2-1μｓ

紅外光源波長(zhǎng)：1.06～1.09μm（測(cè)量硅單晶）   脈沖電：5A～20A

如測(cè)量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長(zhǎng)的光源
2.2、頻源

頻率：30MHz       低輸出阻抗      輸出率＞1W

2.3、放大器和檢波器

頻率響應(yīng)：2Hz～2MHz

2.4、配用示波器

配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。

3、測(cè)量范圍

KDK-LT-1可測(cè)硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測(cè)量范圍：5～6000μｓ


重復(fù)頻率＞25次/s      脈寬＞60μｓ          光脈沖關(guān)斷時(shí)間＜0.2-1μｓ

紅外光源波長(zhǎng)：1.06～1.09μm（測(cè)量硅單晶）   脈沖電：5A～20A

如測(cè)量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長(zhǎng)的光源
2.2、頻源

頻率：30MHz       低輸出阻抗      輸出率＞1W

2.3、放大器和檢波器

頻率響應(yīng)：2Hz～2MHz

2.4、配用示波器

配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。

3、測(cè)量范圍

KDK-LT-1可測(cè)硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測(cè)量范圍：5～6000μｓ





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